不均匀的电路老化成为一个更大的问题
随着引入更多变量，解决问题变得越来越容易。
随着工程师寻找提高可靠性并在其整个生命周期内保持芯片功能的方法，电路老化已成为主要的设计挑战。
在数据中心和汽车中，芯片故障可能导致停机甚至受伤。 对可靠性的需求对于移动和消费电子产品也变得越来越重要。 这些设备用于家庭导航或健康监测等应用，并且这些设备的成本一直在稳步上升。 同样重要的是要考虑代工厂模型的不同变化、可能对不同组件施加压力的不同用途，以及不同的热和功率曲线。 这使得很难预测芯片随时间的行为。
来源和详细信息：
https://semiengineering.com/uneven-circuit-aging-becoming-a-bigger-problem/